臺式的熒光X射線膜厚儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。
保障膜厚儀測量顯示值準(zhǔn)確性必要懂得以下小技巧
基體金屬特性
對于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,無損檢測資源網(wǎng) 如果沒有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。